Исследованиями установлено, что распределение двойников по глубине упрочненных СИО образцов неодинаково. Следует отметить следующие изменения от поверхности образца вглубь по сечению: 1) размер зерна увеличивается; 2) степень искажения зерен убывает; 3) общее количество двойников уменьшается; 4) число зерен, содержащих двойники, снижается; 5) количество перьевидных двойников уменьшается так, что становятся преобладающими узкие двойники; 6) средняя толщина двойников становится меньше (рис. 1).
Указанные закономерности связаны с изменением величины и длительности действия напряжения при распространении статико-импульсного воздействия вглубь упрочненного образца, а также с различиями в ориентации зерен по отношению к главным напряжениям.