III Международная студенческая научная конференция Студенческий научный форум - 2011

В данной работе применён генетический алгоритм оптимизации входных параметров для расчёта характеристик рассеяния дифракционных структур на основе метода интегральных уравнений. Анализ дифракционных структур важен при проектировании систем радиосвязи и анализе электромагнитной совместимости (ЭМС). К настоящему времени разработано множество алгоритмов расчёта дифракционных структур, но существует небольшое число работ посвящённых оптимизации дифракционных характеристик.

Цель данной работы заключается в разработке методики оптимизации характеристик дифракционных структур с использованием генетических алгоритмов.

Задачи:

1.Разработка модели рассеяния электромагнитных волн на дифракционных структурах.

2.Разработка алгоритма оптимизации характеристик рассеяния на основе генетического алгоритма.

3.Создание программного продукта, реализующего данный алгоритм.

Формулировка задачи в виде интегрального уравнения или системы интегральных уравнений, как правило, снижает размерность задачи и, во-вторых, сводит исходную граничную задачу в неограниченной области к задаче в ограниченной области (на поверхности или в объеме рассеивателя). В рамках данного метода точки, текущие на поверхности тела, определяются на основе решения интегрального уравнения. Расчет рассеянного электромагнитного поля проводится на основе найденных токов.

При решении задачи дан объект, у которого в качестве параметров рассматривается размер электромагнитного отражателя и расстояние между объектом и электромагнитным отражателем. Задано требуемое значение рассеянного электромагнитного поля. С использованием генетического алгоритма определяются параметры объекта, при которых достигается значение рассеянного электромагнитного поля менее заданного.