II Международная студенческая научная конференция Студенческий научный форум - 2010

Масс-спектрометрический метод течеискания применяют при контроле герметичности, а также при проведении испытаний на герметичность. Метод течеискания основан на обнаружении пробного вещества в смеси веществ, проникающих через течи, путем ионизации веществ с последующим разделением ионов по отношению их массы к заряду под действием электрического и магнитного полей. Основным пробным веществом является инертный газ - гелий. При локализации течи масс-спектрометрическим методом течеискания контролируемый объект заполняют пробным газом (контрольной средой) под избыточным давлением. Течи обнаруживают сканированием поверхности объекта щупом течеискателя.

Программное о6еспечение вторичной обработки информации бази­руется на знаниях модели дефектоскопического сигнала. Вторичная о6работка информации предполагает использование связей между параметрами течей и параметрами формализованного дефектоскопического сигнала. Эти связи можно найти на основе изучения модели дефектоскопического сигнала. Последняя может быть получена экспериментально или аналитически. Необходимость в математическом моделировании процесса контроля вызвана необходимостью оптимизации конструктивно-технологических параметров устройств локализации течи (УЛТ), производимой на стадии их проектирования. Известно, что модель дефектоскопического сигнала описывается уравнениями изменения концентрации или парциального давления пробного газа в прео6разователе утечки, которые учитывают процесс переноса пробного газа от источника пробного газа до прео6разователя утечки. Модель дефектоскопического сигнала 6удет зависеть не только от количества отбираемой пробы, но и от области отбора, поскольку пробный газ неравномерно распределен в пространстве. В связи с этим возникла необходимость в аналитическом изучении процессов газовой динамики, протекающих в устройствах локализации течей, реализующих спосо6 щупа при накоплении утечки пробного газа.

В результате чего будут уста­новлены аналитические зависимости, связывающие чувствительность и динамические характеристики испытательной системы с ее параметрами и позволяющие прогнозировать изменение дефектоскопичес­кого сигнала во времени.